T.K. 装置側の立場から話すと、当社では独自のテスターを開発しています。テスターメーカーから汎用のテスターを買うこともできますが、性能に比して高価な場合が多いため、自社でより高性能の装置をよりコストをかけずに導入しようと取り組んでいるのです。評価・解析や製品開発のエンジニアの「こういうテスターがあったら」という声を聞いて、アイデアを練りながら形にしていけるので、モチベーションが上がります。何より、自分たちが企画・開発したテスターが工場にずらっと並ぶ姿を目の当たりにできるのが、いちばんの魅力です。

私自身の事例では、ウェハー上の不良チップの所在をマッピングする装置ですね。それまで、測定にすごく時間がかかっていた原因を特定し、解決策を工夫したうえで、テスター専門ではないメーカーに製作を依頼しました。結果、測定スピードを従来の約120倍に高めただけでなく、価格を半分に抑えることに成功。現在、四日市工場で運用されています。

K.M. 最新のサーバやPCに最新のSSDを搭載し、いろいろ動かしてみながら評価できるのが、楽しくて面白いところです。各種LinuxやWindowsをはじめ、多様なOS環境でも安定して動作するのが当社のSSD製品の強みですが、言い換えれば私たちは、多様かつ先端のOSやアーキテクチャ、またNVMeなど高速化が進むインターフェースの知識をいち早く吸収しながら、総合的な品質評価をドライブできるわけです。

SSDのファームウェア自体、新しいインターフェースや機能に応じて進化していますし、エンタープライズ系ユーザーの使い方や使い勝手をイメージしたアプリケーションを構築して性能を検証したり、SSDへのストレスのかけ方を工夫したり、コンピューティングに興味のある人に向いている仕事だと思います。評価の自動化を推進するプロジェクトなど、横断的な案件にも参画しており、スキルアップにつながっています。

M.O.不良解析では、マイクロからナノのレベルまで掘り下げて、ピンポイントで発生箇所を突き止める必要があります。いろいろ情報に当たりながら、検討を重ねて的を絞り込んだ結果、自分が予想したポイントに実際に不良が見つかった時は、やはり嬉しいものです。

見えない世界をどうやって見るか、多角的にアプローチしていくトライアルが面白くて、例えば私は、フラッシュメモリ内部の配線を評価して不良を見つけられるようにしました。これまで、内側に隠れている配線を評価するのが困難だったのを、前職を含めて培った知識・経験を活かし、新しいメソッドを確立できたのです。みんなから『中まで配線が見えるようになった！』と喜ばれましたが、おかげで依頼が殺到して、毎日大忙し、といった感じです(笑)。